近日，由集團(tuán)公司自主開發(fā)的一種X-射線熒光光譜法測定硫酸鎂及其水合物中鎂、硫元素含量的方法獲得國家發(fā)明專利授權(quán)。

        X-射線熒光光譜法是目前元素分析領(lǐng)域中重要的分析方法，但此法在檢測含結(jié)晶水類產(chǎn)品時由于揮發(fā)出的水蒸氣會造成樣片開裂，影響數(shù)據(jù)穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性，使其應(yīng)用受限。

        本發(fā)明通過優(yōu)化測定方法流程，采用先灼燒后校正的方法，解決了X-射線熒光光譜測定方法在測定含結(jié)晶水類樣品時的技術(shù)難題，提升了檢測效率，標(biāo)志著企業(yè)在技術(shù)創(chuàng)新發(fā)展的道路上又邁出了堅實的一步。

編制：沈潔  審校：李長龍  主審：楊云洪